| 专利名称 | |||
|---|---|---|---|
| 一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法 | |||
| 专利号 | 专利类型 | 技术领域 | |
| ZL201911182587.1 | 发明专利 | 智能制造 | |
| 专利权年限 | 专利权人性质 | 专利权人 | |
| 20年 | 高校 | 江苏理工学院 | |
| 描述/摘要 | |||
| 本发明公开一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法，包括以下步骤：(1)采集QFN芯片引脚图像，进行滤波、二值化处理；(2)利用多边形逼近方法提取芯片图像中心焊盘轮廓；(3)提出改进Harris角点检测算法，获取轮廓顶点；(4)利用最小二乘法对距离最远的顶点进行直线拟合，将直线作为角度识别方向；(5)以图像形心坐标为旋转中心，快速校正芯片引脚图像并去除白边。该校正方法为更快速、更准确地校正QFN芯片提供了一定的理论依据，提高了QFN封装缺陷视觉检测效率。 | |||